2 MeV electron irradiation effects on bulk and interface of atomic layer deposited high-k gate dielectrics on silicon

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Zeitschrift:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Datum der Publikation: 2013

Ausgabe: 534

Seiten: 482-487

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.TSF.2013.02.004 GOOGLE SCHOLAR