Direct atomic imaging of antiphase boundaries and orthotwins in orientation-patterned GaAs
- Dos Reis, R.
- Ophus, C.
- Jimenez, J.
- Snure, M.
- Gérard, B.
- Liliental-Weber, Z.
Revista:
Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951
Año de publicación: 2013
Volumen: 102
Número: 8
Tipo: Artículo