Experimental observation of negative susceptance in HfO2-based RRAM devices
- Duenas, S.
- Castan, H.
- Garcia, H.
- Ossorio, O.G.
- Dominguez, L.A.
- Miranda, E.
ISSN: 0741-3106
Ano de publicación: 2017
Volume: 38
Número: 9
Páxinas: 1216-1219
Tipo: Artigo