Bragg-Fresnel optics for hard x-ray microscopy: Development of fabrication process and x-ray characterization at the Advanced Photon Source
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- Hu, E.L.
- Haeffner, D.
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- Yun, W.
ISSN: 0034-6748
Año de publicación: 1998
Volumen: 69
Número: 8
Páginas: 2844-2848
Tipo: Artículo