Simulation of defects and diffusion phenomena in silicon
- Law, M.E.
- Gilmer, G.H.
- Jaraíz, M.
ISSN: 0883-7694
Año de publicación: 2000
Volumen: 25
Número: 6
Páginas: 45-50
Tipo: Artículo
Revista:
MRS Bulletin
