Artifacts-free fourier ptychographic microscopy using a misaligned setup
- Bianco, V.
- Mandracchia, B.
- Běhal, J.
- Barone, D.
- Memmolo, P.
- Ferraro, P.
ISSN: 1996-756X, 0277-786X
ISBN: 9781510644069
Año de publicación: 2021
Volumen: 11786
Tipo: Aportación congreso