Stark width measurement of several OII lines
- del Val, J.A.
- Aparicio, J.A.
- Mar, S.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISSN: 0277-786X
Año de publicación: 1999
Volumen: 3572
Páginas: 542-546
Tipo: Artículo