Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Any de publicació: 2010
Volum: 23
Número: 4-5
Pàgines: 266-284
Tipus: Aportació congrés
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Any de publicació: 2010
Volum: 23
Número: 4-5
Pàgines: 266-284
Tipus: Aportació congrés