Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 23
Nummer: 4-5
Seiten: 266-284
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 23
Nummer: 4-5
Seiten: 266-284
Art: Konferenz-Beitrag