Electrical and optical characterization of extended defects in silicon mono-cast material
- Moralejo, B.
- Tejero, A.
- Hortelano, V.
- Martínez, O.
- Jiménez, J.
- Parra, V.
ISSN: 1862-6351, 1610-1642
Año de publicación: 2012
Volumen: 9
Número: 10-11
Páginas: 2158-2163
Tipo: Artículo