Defect signatures in degraded high power laser diodes

  1. Hortelano, V.
  2. Anaya, J.
  3. Souto, J.
  4. Jiménez, J.
  5. Perinet, J.
  6. Laruelle, F.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Argitalpen urtea: 2013

Alea: 53

Zenbakia: 9-11

Orrialdeak: 1501-1505

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2013.07.071 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak