Defect signatures in degraded high power laser diodes

  1. Hortelano, V.
  2. Anaya, J.
  3. Souto, J.
  4. Jiménez, J.
  5. Perinet, J.
  6. Laruelle, F.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Ano de publicación: 2013

Volume: 53

Número: 9-11

Páxinas: 1501-1505

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2013.07.071 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable