Optical admittance spectroscopy: A new method for deep level characterization
- Dueñas, S.
- Jaraiz, M.
- Vicente, J.
- Rubio, E.
- Bailón, L.
- Barbolla, J.
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 1987
Volumen: 61
Número: 7
Páginas: 2541-2545
Tipo: Artículo
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 1987
Volumen: 61
Número: 7
Páginas: 2541-2545
Tipo: Artículo