Optical admittance spectroscopy: A new method for deep level characterization
- Dueñas, S.
- Jaraiz, M.
- Vicente, J.
- Rubio, E.
- Bailón, L.
- Barbolla, J.
ISSN: 0021-8979
Argitalpen urtea: 1987
Alea: 61
Zenbakia: 7
Orrialdeak: 2541-2545
Mota: Artikulua
ISSN: 0021-8979
Argitalpen urtea: 1987
Alea: 61
Zenbakia: 7
Orrialdeak: 2541-2545
Mota: Artikulua