Optical admittance spectroscopy: A new method for deep level characterization
- Dueñas, S.
- Jaraiz, M.
- Vicente, J.
- Rubio, E.
- Bailón, L.
- Barbolla, J.
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1987
Volume: 61
Número: 7
Páxinas: 2541-2545
Tipo: Artigo
ISSN: 0021-8979
Ano de publicación: 1987
Volume: 61
Número: 7
Páxinas: 2541-2545
Tipo: Artigo