Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation

1. Santos, I.
2. Ruiz, M.
3. Aboy, M.
4. Marqués, L.A.
5. López, P.
6. Pelaz, L.

Exportieren

Exportieren

×

MLA

modern-language-association

APA

apa

Chicago

chicago-fullnote-bibliography

Harvard

harvard-cite-them-right

Vancouver

vancouver-author-date

---

RIS BibTex

Exportieren

×

Das Dokument kann nicht exportiert werden, da es zu einem anderen Portal gehört.

Volltext

lock_openUVADOC externo

DOI: 10.1007/S11664-018-6140-X GOOGLE SCHOLAR lock_openUVADOC editor