Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation

1. Santos, I.
2. Ruiz, M.
3. Aboy, M.
4. Marqués, L.A.
5. López, P.
6. Pelaz, L.

Exporter

Exporter

×

MLA

modern-language-association

APA

apa

Chicago

chicago-fullnote-bibliography

Harvard

harvard-cite-them-right

Vancouver

vancouver-author-date

---

RIS BibTex

Exporter

×

Le document ne peut pas être exporté car il appartient à un autre portail.

Texte intégral

lock_openUVADOC externo

DOI: 10.1007/S11664-018-6140-X GOOGLE SCHOLAR lock_openUVADOC editor