Micro-Raman spectroscopy of semiconductors: Principles and applications

  1. Jiménez, J.
  2. de Wolf, I.
  3. Landesman, J.P.
Llibre:
Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials

ISBN: 9781560329411

Any de publicació: 2024

Pàgines: 89-198

Tipus: Capítol de llibre

DOI: 10.1201/9781003578673-2 GOOGLE SCHOLAR