Micro-Raman spectroscopy of semiconductors: Principles and applications

  1. Jiménez, J.
  2. de Wolf, I.
  3. Landesman, J.P.
Libro:
Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials

ISBN: 9781560329411

Ano de publicación: 2024

Páxinas: 89-198

Tipo: Capítulo de libro

DOI: 10.1201/9781003578673-2 GOOGLE SCHOLAR