Noise analysis of 0.1 μm gate MESFETs and HEMTs
- Mateos, J.
- González, T.
- Pardo, D.
- Tadyszak, P.
- Danneville, F.
- Cappy, A.
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 1998
Volum: 42
Número: 1
Pàgines: 79-85
Tipus: Article
Revista:
Solid-State Electronics