Noise analysis of 0.1 μm gate MESFETs and HEMTs
- Mateos, J.
- González, T.
- Pardo, D.
- Tadyszak, P.
- Danneville, F.
- Cappy, A.
ISSN: 0038-1101
Argitalpen urtea: 1998
Alea: 42
Zenbakia: 1
Orrialdeak: 79-85
Mota: Artikulua
Aldizkaria:
Solid-State Electronics