Noise analysis of 0.1 μm gate MESFETs and HEMTs

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
  4. Tadyszak, P.
  5. Danneville, F.
  6. Cappy, A.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 42

Nummer: 1

Seiten: 79-85

Art: Artikel

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