Atomistic analysis of the ion beam induced defect evolution
- Aboy, M.
- Pelaz, L.
- Marqués, L.A.
- Barbolla, J.
ISSN: 0168-583X
Any de publicació: 2004
Volum: 216
Número: 1-4
Pàgines: 100-104
Tipus: Aportació congrés
ISSN: 0168-583X
Any de publicació: 2004
Volum: 216
Número: 1-4
Pàgines: 100-104
Tipus: Aportació congrés