Atomistic analysis of the ion beam induced defect evolution
- Aboy, M.
- Pelaz, L.
- Marqués, L.A.
- Barbolla, J.
ISSN: 0168-583X
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 216
Nummer: 1-4
Seiten: 100-104
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 0168-583X
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 216
Nummer: 1-4
Seiten: 100-104
Art: Konferenz-Beitrag