Atomistic analysis of the ion beam induced defect evolution
- Aboy, M.
- Pelaz, L.
- Marqués, L.A.
- Barbolla, J.
ISSN: 0168-583X
Année de publication: 2004
Volumen: 216
Número: 1-4
Pages: 100-104
Type: Communication dans un congrès
ISSN: 0168-583X
Année de publication: 2004
Volumen: 216
Número: 1-4
Pages: 100-104
Type: Communication dans un congrès