Damage buildup model with dose rate and temperature dependence

  1. Hernández-Mangas, J.M.
  2. Marqués, L.A.
  3. Bailón, L.
  4. L. Pelaz
Actes:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings

ISBN: 9780780388109

Any de publicació: 2005

Volum: 2005

Pàgines: 435-437

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/SCED.2005.1504474 GOOGLE SCHOLAR