Damage buildup model with dose rate and temperature dependence
- Hernández-Mangas, J.M.
- Marqués, L.A.
- Bailón, L.
- L. Pelaz
Konferenzberichte:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9780780388109
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 2005
Seiten: 435-437
Art: Konferenz-Beitrag