Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Año de publicación: 2010
Volumen: 23
Número: 4-5
Páginas: 266-284
Tipo: Aportación congreso
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Año de publicación: 2010
Volumen: 23
Número: 4-5
Páginas: 266-284
Tipo: Aportación congreso