Defect signatures in degraded high power laser diodes

  1. Hortelano, V.
  2. Anaya, J.
  3. Souto, J.
  4. Jiménez, J.
  5. Perinet, J.
  6. Laruelle, F.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2013

Volumen: 53

Número: 9-11

Páginas: 1501-1505

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2013.07.071 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible