Magnetoresistance characterization of nanometer Si metal-oxide- semiconductor transistors

  1. Meziani, Y.M.
  2. Łusakowski, J.
  3. Knap, W.
  4. Dyakonova, N.
  5. Teppe, F.
  6. Romanjek, K.
  7. Ferrier, M.
  8. Clerc, R.
  9. Ghibaudo, G.
  10. Boeuf, F.
  11. Skotnicki, T.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Any de publicació: 2004

Volum: 96

Número: 10

Pàgines: 5761-5765

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.1806991 GOOGLE SCHOLAR