Magnetoresistance characterization of nanometer Si metal-oxide- semiconductor transistors

  1. Meziani, Y.M.
  2. Łusakowski, J.
  3. Knap, W.
  4. Dyakonova, N.
  5. Teppe, F.
  6. Romanjek, K.
  7. Ferrier, M.
  8. Clerc, R.
  9. Ghibaudo, G.
  10. Boeuf, F.
  11. Skotnicki, T.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Ano de publicación: 2004

Volume: 96

Número: 10

Páxinas: 5761-5765

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.1806991 GOOGLE SCHOLAR