Magnetoresistance characterization of nanometer Si metal-oxide- semiconductor transistors

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Zeitschrift:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 96

Nummer: 10

Seiten: 5761-5765

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.1806991 GOOGLE SCHOLAR