Magnetoresistance characterization of nanometer Si metal-oxide- semiconductor transistors

  1. Meziani, Y.M.
  2. Łusakowski, J.
  3. Knap, W.
  4. Dyakonova, N.
  5. Teppe, F.
  6. Romanjek, K.
  7. Ferrier, M.
  8. Clerc, R.
  9. Ghibaudo, G.
  10. Boeuf, F.
  11. Skotnicki, T.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Argitalpen urtea: 2004

Alea: 96

Zenbakia: 10

Orrialdeak: 5761-5765

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.1806991 GOOGLE SCHOLAR