Magnetoresistance characterization of nanometer Si metal-oxide- semiconductor transistors

  1. Meziani, Y.M.
  2. Łusakowski, J.
  3. Knap, W.
  4. Dyakonova, N.
  5. Teppe, F.
  6. Romanjek, K.
  7. Ferrier, M.
  8. Clerc, R.
  9. Ghibaudo, G.
  10. Boeuf, F.
  11. Skotnicki, T.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2004

Volumen: 96

Número: 10

Páginas: 5761-5765

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1806991 GOOGLE SCHOLAR