Interface state density measurement in MOS structures by analysis of the thermally stimulated conductance
- de Dios, A.
- Castán, E.
- Bailón, L.
- Barbolla, J.
- Lozano, M.
- Lora-Tamayo, E.
ISSN: 0038-1101
Ano de publicación: 1990
Volume: 33
Número: 8
Páxinas: 987-992
Tipo: Artigo