Simulation analysis of boron pocket deactivation in NMOS transistors with SPER junctions
- Aboy, M.
- Marqués, L.A.
- López, P.
- Santos, I.
- Barbolla, J.
- Duffy, R.
- L. Pelaz
Actes:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9780780388109
Any de publicació: 2005
Volum: 2005
Pàgines: 451-454
Tipus: Aportació congrés