Simulation analysis of boron pocket deactivation in NMOS transistors with SPER junctions
- Aboy, M.
- Marqués, L.A.
- López, P.
- Santos, I.
- Barbolla, J.
- Duffy, R.
- L. Pelaz
Konferenzberichte:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9780780388109
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 2005
Seiten: 451-454
Art: Konferenz-Beitrag